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放射性污染測量儀 核輻射污染檢測儀 型號：mu-I

適用性  
   mu-I放射性表面污染測量儀采用半導體探測器，適用于低水平α、β輻射表面污染檢測和環境X、γ輻射監測。具有良好的探測效率、較高的可靠性和方便的操作特性。精巧的設計使同一探頭能同時區分測量α、β粒子，并可即時用于環境X、γ輻射劑量水平測量。該儀器采用單片機控制，可連續進行測量數據的記錄存儲，并由計算機通訊獲取。該設備可用于環境放射性監測、核醫學、核電站、核燃料生產、運輸、儲存和商檢等諸多領域。儀器控制功能還有：本底測量定時選擇、污染測量定時選擇、報警閾值設置、數據通訊選擇、聲音控制、背光控制、模擬條碼顯示、電池欠壓指示等。 
▉主要技術指標 
探測器●半導體探測器
探頭靈敏窗面積●Ia型3.14cm2和Ib型19.6cm2可選; 
探頭端口邊緣至靈敏窗Z小距離●4.5mm; 
探頭窗鋁膜質量厚度●＜1.1mg/ cm2; 
儀器效率●ηα≥24%（239Pu，距窗表面4.5mm ）；ηβ≥30%
儀器本底●Ia型：α＜0.5cpm; β≤20 cpm；
●Ib型: α＜3cpm; β≤100 cpm；
計數量程●α、β計數率0.1～99999cpm； 
X、γ輻射測量范圍●0.01μSv/h～100mSv/h,相對誤差：≤±15%；
報警設置●α：1～200cpm，β：20～2000cpm，步長1，連續可調；
電 源●內置可充電鋰電池，一次充電可持續工作時間≥7天；
工作環境特性●溫度-20℃～50℃，相對濕度RH≤90%（@30℃）；
尺寸/重 量<●主機：190×93×48;探頭：Φ33×150；總重：730g。

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